Arcetri Technical Reports 8/2010
Test dell'elettronica e misure di stabilità a lungo termine
V.Biliotti(1) C.Baffa(1) G.Falcini(1) E.Giani(1)
E.Oliva(1) L.Origlia(2) A.Tozzi(1) M.Sozzi(1)
(1) INAF Osservatorio Astrofisico di Arcetri
(2) INAF Osservatorio Astronomico di Bologna
Sommario
Questo rapporto descrive alcuni test eseguiti sull'elettronica di GIANO e le sue prestazioni misurate.
Le misure sono state eseguite a temperatura criogenica costante, durante un ciclo di raffreddamento effettuato usando il multiplexer al posto del sensore. Il nostro scopo era quello di valutare la stabilità dell'elettronica nell'arco di tempo corrispondente ad una nottata osservativa al telescopio.
Sia a temperatura criogenica (con il Dewar chiuso), sia a temperatura ambiente (con il Dewar aperto), non si evidenziano fenomeni di disturbo, che rimangono sotto la soglia del misurabile.
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